EOS:Electrical Over Stress的缩写,电气过应力,EOS特点:典型地,由电源和测试设备产生,事件持续时间在微秒~秒级. (也可能是毫微秒),损坏的现象包括金属线熔化、发热、高功率、闩锁效应,短的EOS脉冲损坏看起来像ESD损坏;ESD特点:ESD属于EOS的特例,有限的能量,由静电荷引起,事件持续时间在微微秒~毫微秒级,其可见性不强损坏位置不易发现,,通常导致晶体管级别的损坏。
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