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怎样去区分EOS和ESD在芯片上成的伤害？

悬赏：5     提问者：深圳市盛扬半导体有限公司     解决时间：2011/5/27 16:39:10

相对于电子元件的芯片级分析，如果在不对不良品伤害的情况下，如何区分ESD和EOS这两种不同的失效模式？

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EOS 损坏的现象包括金属线熔化、发热、高功率、闩锁效应,短的EOS脉冲损坏看起来像ESD损坏 ;ESD 其可见性不强损坏位置不易发现, 通常导致电晶体级别的损坏.如果肉眼能看到很明显的烧毁迹象，就肯定是EOS，如果在显微镜下才能看到很小的毁坏现在，则很难区分到底是EOS还是ESD.

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4 您已评价！ 回答者：深圳楷轩电子有限公司   2011/4/28 9:25:53

其他答案

不对不良品伤害的情况下,基本上区分不了是ESD损坏还是EOS损坏，从外部现象来看，都是没法工作，只能开盖进行晶片级分析。

参考资料：
3 您已评价！ 回答者： 深圳楷轩电子有限公司    2011/4/28 9:29:17

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